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GIS局放检测的方法|GIS局放
本站关键词:GIS局放 | SF6露点仪 | 庭院灯  发布时间:2023/9/7 19:46:41| 浏览次数:108

GIS中,局放常常伴随着声音、光线、机械波、电脉冲以及SF6气体的化学变化等现象。针对从局放中产生的声音、光线、电气和化学效应,我们可以采用声学、光学、电学和化学等多种方法来进行检测。

 

GIS局放

  1、化学检测法

  GIS发生局部放电时,会引起SF6及其杂质发生化学反应,从而产生新的气体。化学检测法可以通过检测绝缘气体成分变化来确定局部放电的程度。当发生放电时,SF6会分解成为SOF2SO2F2两种气体,从而导致绝缘气体成分发生变化。但是由于GIS中的吸附剂和干燥剂的存在,可能会影响检测结果。

  2、光学检测法

  这种方法利用安装在GIS内部的光电二极管或光电倍增管进行光测量,从而评估局部放电的具体强度。由于光检测探头安装在气体绝缘开关(GIS)内部,当局部放电发生时会伴随着强烈的光辐射。检测装置几乎不受外部电磁干扰,检测灵敏度较高。然而,SF6气体具有吸收光的能力,当气体浓度增高时,吸收能力也会提高。

  3、超声波检测法

  当GIS设备发生局部放电时,气体分子会发生距离碰撞,形成压力,并产生超声波脉冲。声波会以波浪形式向周围传播,通过特制的超声波传感器侦测到声波信号,间接发现腔体内部的局部放电。

  4、超高频检测法

  目前,该方法是局部放电检测的主流之一。GIS设备发生局部放电时,电荷会快速移动,形成短时电流脉冲,同时也会产生复杂的电磁信号。为了接收这一信号,可使用频率范围在300MHz-3GHz的超高频传感器,进而对信号进行分析,以便确定绝缘缺陷类型。这项检测方法具有以下优点:电磁干扰抵抗能力强,且灵敏度高。它的不足之处在于与传统的脉冲电流方法相比,无法准确地标定局部放电的放电量大小。目前,这种方法是局部放电检测的主流方法之一。GIS局放

 
 
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